PROGRAM-CONTROLLED MEMORY TEST SYSTEM

被引:0
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作者
HIYAMA, Y
WAKABAYASHI, Y
SHINJI, Y
ABE, M
KOGUCHI, S
机构
关键词
D O I
10.1109/TIM.1971.5570648
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页数:1
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