CONTACTLESS METHOD OF MEASURING THE HALL-MOBILITY OF FREE CHARGE-CARRIERS IN SEMICONDUCTORS

被引：0
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作者：
SIDORIN, VV
SIDORIN, YV
机构：
来源：
INDUSTRIAL LABORATORY | 1990年 / 56卷 / 10期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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页码：1184 / 1188
页数：5
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