TESTING OF POLLUTED INSULATORS - PRESENT SITUATION AND PROBLEMS OF FUTURE

被引：6
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作者：
SFORZINI, M
机构：
来源：
JOURNAL OF THE FRANKLIN INSTITUTE-ENGINEERING AND APPLIED MATHEMATICS | 1972年 / 294卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1016/0016-0032(72)90097-X
中图分类号：
TP [自动化技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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页码：437 / &
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