MICROWAVE HALL-MOBILITY MEASUREMENTS ON 1-DIMENSIONAL CONDUCTING SYSTEMS [K2PT(CN)4BRO.3.XH20 AND QUINOLINIUM (TCNQ)2BAR]

被引：5
|
作者：
SAYED, MM
WESTGATE, CR
PERLSTEIN, JH
机构：
[1] JOHNS HOPKINS UNIV, ELECT ENGN DEPT, BALTIMORE, MD 21218 USA
[2] JOHNS HOPKINS UNIV, CHEM DEPT, BALTIMORE, MD 21218 USA
来源：
ELECTRONICS LETTERS | 1973年 / 9卷 / 22期
关键词：
D O I：
10.1049/el:19730389
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
收藏
页码：529 / 529
页数：1
相关论文
共 5 条
1