AN EVALUATION, BY FOURIER-ANALYSIS, OF SOME OF THE ERRORS INTRODUCED IN REFLECTANCE MEASUREMENTS

被引：1
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作者：
MARCOS, C
VIRGOS, JM
NICIEZA, CG
机构：
[1] UNIV OVIEDO,DEPT EXPLOTAC MINAS,OVIEDO,SPAIN
[2] UNIV OVIEDO,DEPT FIS,OVIEDO,SPAIN
来源：
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1987年 / 146卷
关键词：
D O I：
10.1111/j.1365-2818.1987.tb01337.x
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
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页数：5
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