STABILITY TESTS FOR ONE-DIMENSIONAL 2-DIMENSIONAL AND MULTIDIMENSIONAL LINEAR-SYSTEMS

被引:13
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作者
JURY, EI [1 ]
机构
[1] UNIV CALIF BERKELEY,ELECTR RES LAB,BERKELEY,CA 94720
关键词
D O I
10.1049/piee.1977.0260
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:1237 / 1240
页数:4
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