SIMULATION COMPARISONS OF POINT ESTIMATION METHODS IN THE 2-PARAMETER WEIBULL DISTRIBUTION

被引：1
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作者：
KUCHII, S
KAIO, N
OSAKI, S
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1979年 / 19卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(79)90149-5
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
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页码：333 / 336
页数：4
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