ONE METHOD FOR SAMPLE-SIZE EVALUATION

被引:0
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作者
BRKIC, DM
机构
来源
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1989年 / 29卷 / 05期
关键词
D O I
10.1016/0026-2714(89)90160-1
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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页数:3
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