ION-IMPLANTATION DAMAGE GETTERING EFFECT IN SILICON PHOTODIODE ARRAY CAMERA TARGET

被引:30
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作者
HSIEH, CM
MATHEWS, JR
SEIDEL, HD
PICKAR, KA
DRUM, CM
机构
[1] BELL TEL LABS, READING, PA 19604 USA
[2] BELL TEL LABS, MURRAY HILL, NJ 07974 USA
[3] BELL TEL LABS, ALLENTOWN, PA 18103 USA
关键词
D O I
10.1063/1.1654624
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:238 / 240
页数:3
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