SEQUENTIAL-TESTS OF HYPOTHESES FOR SYSTEM-RELIABILITY MODELED BY A 2-PARAMETER WEIBULL DISTRIBUTION - COMMENT

被引：0
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作者：
ASCHER, H
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1987年 / 36卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1109/TR.1987.5222420
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
引用
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页码：390 / 391
页数：2
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共 50 条
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