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SCANNING MODE IN ELECTRON-MICROSCOPY
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作者
:
PFEFFERKORN, G
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PFEFFERKORN, G
机构
:
来源
:
MIKROSKOPIE
|
1978年
/ 34卷
/ 3-4期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH742 [显微镜];
学科分类号
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:
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CONDUCTIVE MODE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY
TOTH, AL
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机构:
HUNGARIAN ACAD SCI,TECH PHYS RES INST,H-1325 BUDAPEST,HUNGARY
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TOTH, AL
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[2]
HIGH-VOLTAGE ELECTRON-MICROSCOPY AND SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY (EBIC MODE) OF THE SAME DISLOCATION
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HINGST, T
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TONER, PG
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SALEH, KM
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[10]
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MORRIS, GP
[J].
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1973,
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