BOND CHARGE DETERMINATION IN TERNARY CHALCOPYRITE SEMICONDUCTORS BY MEANS OF X-RAY STRUCTURE AMPLITUDE INVESTIGATIONS

被引：4
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作者：
PIETSCH, U
机构：
来源：
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1981年 / 68卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1002/pssa.2210680141
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：321 / 327
页数：7
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